Dersin Kodu | Dersin Adı | Dersin Türü | Yıl | Yarıyıl | AKTS |
---|---|---|---|---|---|
FBMJFM7037 | Yerbiliminde Malzemelerin Analitik Teknikleri ve Karakterizasyonu | Ders | 1 | 1 | 0 |
Yüksek Lisans
Türkçe
Bu derste; lisansüstü eğitim alan öğrencilere, yerbiliminde incelenen malzemelerinin kimyasal ve fiziksel analizlerinin teorik ve uygulamalı olarak anlatımı ve yorumlanması amaçlanmaktadır. Karakterizasyon tekniklerinin yerbilimi ve jeolojik malzemelerin yapı ve özellikleri ile ilişkisi değerlendirilecektir. Bu amaçla, mikroyapı ve kimyasal kompozisyon analizleri, ışın ve elektron mikroskop kullanımı, x-ışını difraksiyonu, spektroskopik metotlar ve termal analiz metotları detaylı verilecektir. Ayrıca, laboratuvar ortamında uygulamalı çalışma yapılacaktır.
Dr. Öğretim Üyesi Yüksel AKINAY
1 | Yerbilimi ve jeolojik malzemeler için en uygun karakterizasyon tekniğini tanımlar. |
2 | Yerbilimi ve jeolojik malzemelerin içyapı ve fiziksel özellikleri arasındaki ilişkiyi kurar. |
3 | Yerbilimi ve jeolojik malzeme karakterizasyonunda kullanılan cihazların çalışma prensiplerini öğrenir. |
4 | Elde ettiği datalardan yerbilimi ve jeolojik malzemenin fiziksel, kimyasal ve yapısal özelliklerini yorumlama yeteneği kazanır. |
Birinci Öğretim
[Yok]
Bu derste, yerbiliminde en çok incelenen kayaç ve minerallerin yapısal karakterizasyonları anlatılacak ve karakterizasyonunda kullanılan kırınım, spektroskopi ve görüntüleme yöntemlerinin temel ve teorik çerçevesini tanıtılacaktır. Bu kapsamda yerbilimi ve jeolojik malzemelerin yapısal ve kompozisyon karakterizasyonunda kullanılan spektroskopi, kırınım ve görüntüleme yöntemlerinin temel yöntemlerini tanıtacaktır. Elektron mikroskoplar (SEM, TEM), spektroskopik yöntemler (IR, Raman) ve kütle spektrometrisi dahil olmak üzere diğer analitik teknikler tartışılacaktır.
Hafta | Teorik | Uygulama | Laboratuvar |
---|---|---|---|
1 | Malzeme nedir? Yerbilimi ve jeolojik malzemeler. Kayaçlar ve mineraller | ||
2 | Mikroskobi, optik ve ışın mikroskobu | ||
3 | Taramalı elektron mikroskobuna (SEM) giriş, X-ışını analizi | ||
4 | Geçirimli elektron mikroskobuna giriş (TEM), Odaklanmış iyon demeti (FIB) kullanımı | ||
5 | Yerbilimi ve jeolojik malzemelerin yapı tayininde X-Işını difraksiyon (XRD) metodu | ||
6 | Taramalı prob mikroskop: Atomik kuvvet mikroskobu, Taramalı tünelleme mikroskobu | ||
7 | Ara Sınav | ||
8 | Yerbilimi ve jeolojik malzemelerde X-Işını analizleri (EDS, WDS, XRF, XANES, XPS, EXAFS) | ||
9 | Yerbilimi ve jeolojik malzemelerin mikroskobik incelemeleri için numune hazırlama teknikleri | ||
10 | Yerbiliminde fiziksel Yöntemler-IR (Kızılötesi) Spektroskopisi | ||
11 | Yerbilimi ve jeolojik malzemelerde elementel analiz metotları | ||
12 | Yerbilimi ve jeolojik malzemelerin raman Spektrometresi | ||
13 | Uygulama ve yorumlanması | ||
14 | Proje sunumu |
1) Microprobe Techniques in the Earth Sciences, Philip J. Potts, John F. W. Bowles, Stephen J. B. Reed, Mark R. Cave, 2) Encyclopedia of Materials Characterization, Surfaces, Interfaces, Thin Films. Editors C. Richard Brundle, Charles A. Evans, Jr., Shaun Wilson, Butterworth-Heinemann, Boston, USA 3) Materials Characterization: Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods, Yang Leng, Wiley & Sons; 1st Edition, June 2008, 4) Materials Characterization (Vol. 10), George M. Crankovic, Kathleen Mills, Ruth E. Whan, ASM Handbook Committee 5) Characterization of Materials, 2 Volume Set, Elton N. Kaufmann (Editor); Publisher: Wiley-Interscience (2003)
Yarıyıl (Yıl) İçi Etkinlikleri | Adet | Değer |
---|---|---|
Ara Sınav | 1 | 60 |
Ev Ödevi | 1 | 40 |
Toplam | 100 | |
Yarıyıl (Yıl) Sonu Etkinlikleri | Adet | Değer |
Final Sınavı | 1 | 100 |
Toplam | 100 | |
Yarıyıl (Yıl) İçi Etkinlikleri | 40 | |
Yarıyıl (Yıl) Sonu Etkinlikleri | 60 |
Etkinlikler | Sayısı | Süresi (saat) | Toplam İş Yükü (saat) |
---|---|---|---|
Toplam İş Yükü (saat) | 0 |
PÇ 1 | PÇ 2 | PÇ 3 | PÇ 4 | PÇ 5 | PÇ 6 | PÇ 7 | PÇ 8 | PÇ 9 | PÇ 10 | PÇ 11 | PÇ 12 | PÇ 13 | PÇ 14 | PÇ 15 | |
ÖÇ 1 | |||||||||||||||
ÖÇ 2 | |||||||||||||||
ÖÇ 3 | |||||||||||||||
ÖÇ 4 |